Introducción al producto
El sistema DX -50 Hall Effect es una solución de grado de laboratorio diseñada para la caracterización precisa de los materiales semiconductores. Construido con un electromagno variable y un sendero DX dedicado -320, permite una medición rápida y precisa de la concentración de portador, movilidad, resistividad, coeficiente de pasillo y más. Su software automatizado simplifica las pruebas y la exportación de datos, lo que lo hace ideal para universidades, centros de I + D y laboratorios de semiconductores. Compatible con materiales como grafeno, INP, GaN y SIC, este sistema admite muestras de baja y alta resistencia. Diseñado para el uso y confiabilidad a largo plazo, satisface las necesidades exigentes de la investigación de material avanzado.
El sistema de pruebas de efecto DX -50} Hall es adecuado para estudiar las propiedades eléctricas de los dispositivos semiconductores y los materiales de semiconductores. Los resultados experimentales se calculan automáticamente mediante el software, lo que permite la determinación simultánea de parámetros como la concentración de portadores a granel, concentración de portador de superficie, movilidad, resistividad, coeficiente de pasillo, resistencia magneto y más.
El sistema de efecto Hall consiste en un electroimán, una fuente de alimentación de alta precisión, cables de conexión, fuente de corriente constante de alta precisión, voltímetro de alta precisión, gaussmeter, muestras estándar, soporte de montaje de muestras y software del sistema.
El medidor de efectos DX -320 especialmente desarrollado para este sistema de instrumentos ensambla una fuente de corriente constante y un interruptor (un microvolte y medio y medio y un relé de conmutación de complejo de salón) en uno. Redujo enormemente la conexión y el funcionamiento del experimento. El DX -320 se puede usar solo como una corriente constante y un microvoltio.
Parámetros del sistema de medición del efecto de pasillo
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Parámetros físicos |
Concentración de portador |
10³cm⁻³ - 10 ²³Cm⁻³ |
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Movilidad |
0 .1 cm²\/ volt*sec - 10 ⁸cm²\/ volt*sec |
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Rango de resistividad |
10⁻⁷ ohm*cm - 10 ¹² Ohm*cm |
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Voltaje de la sala |
1 uv - 3 v |
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Coeficiente de salón |
10⁻⁵ - 10 ²⁷cm³\/ c |
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Tipo de material comprobable |
Material semiconductor |
SIGE, SIC, INAS, INGAAS, INP, ALGAAS, MATERIALES HGCDTE Y FERRITE, etc. |
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material de baja resistencia |
Grafeno, metales, óxidos transparentes, materiales semiconductores débilmente magnéticos, materiales de TMR, etc. |
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material de alta resistencia |
Gaas semi-aislantes, GaN, CDTE, etc. |
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Partículas conductoras de material |
Prueba de Tipo P y Tipo N de materiales |
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Entorno de campo magnético |
Tipo de imán |
Electroimán variable |
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Magnitud del campo magnético |
1070mt (el tono de polo es de 10 mm) |
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Área uniforme |
1% |
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Ambiente magnético opcional |
El electroimán del tamaño magnético relevante se puede personalizar de acuerdo con las necesidades de los clientes. |
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Parámetros eléctricos |
Fuente actual |
50. 00 na - 50. 00 ma |
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Resolución de fuente actual |
0. 0001ua |
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Voltaje de medición |
0 ~ ±3V |
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Resolución de medición de voltaje |
0. 0001 MV |
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Otros accesorios |
Sombreado |
Las piezas de blindaje de luz instaladas por aliado externo hacen que el material de prueba sea más estable |
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Tamaño de muestra |
Máximo 30 mm * 30 mm |
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Gabinete de caja |
600*600*1000 mm |
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Pieza de prueba |
Efecto de la sala del Instituto de Semiconductores, Muestras de prueba estándar de la Academia de Ciencias de China y datos: 1 Establecimiento |
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Hacer contactos ohmic |
Soldador eléctrico, chips de indio, soldadura, alambre esmaltado, etc. |
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La medición automática de un botón se puede realizar sin la necesidad de operación humana después de que se inicia la prueba |
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El software puede realizar la curva IV y la curva BV |
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Establecer en software para medición automática de temperatura |
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Los resultados experimentales se miden y los datos se guardarán temporalmente en el software. Si se requiere un almacenamiento a largo plazo, los datos se pueden exportar a una tabla de Excel para facilitar el procesamiento de datos posteriores. |
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Proporcionar muestras de prueba estándar de efecto Hall y datos del Instituto de Semiconductores, Academia de Ciencias de China: 1 set |
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Muestras comprobables del sistema de medición del salón
SAMple Stage of DX -50 Sistema de medición del efecto de la sala
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