Sistema de medición del salón - Serie DX -70
El sistema DX -70 Hall de medición es una solución de prueba avanzada diseñada para una caracterización precisa de los materiales semiconductores. Diseñado para laboratorios de investigación y entornos de control de calidad, este sistema evalúa las propiedades eléctricas clave, como la concentración de portadores, el voltaje del salón, la resistividad y los datos precisos que proporcionan la movilidad críticos para el desarrollo de semiconductores.
Equipado con fuentes de corriente y voltaje de Keithley importadas, este sistema admite un amplio rango de prueba, desde materiales ultra bajo hasta alta resistencia como SIC, GaAs, grafeno y óxidos conductores transparentes. El software integrado automatiza el proceso de medición, ofreciendo resultados en tiempo real y opciones de exportación de datos para un análisis posterior.
Introducción al producto
El sistema de medición de la sala DX -70 se utiliza para medir parámetros importantes como la concentración de portadores, la movilidad, la resistividad y el coeficiente de la sala de materiales semiconductores. Estos parámetros deben controlarse de antemano para comprender las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores. Por lo tanto, el sistema de prueba de efecto Hall es una herramienta importante para comprender e investigar dispositivos semiconductores y las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores.
El sistema de medición del efecto DX -70 Hall consiste en un electroimán, una fuente de alimentación de electromagnet, fuente de corriente constante de alta precisión, voltímetro de alta precisión, tarjeta de matriz, soporte de muestra de efecto Hall, muestra estándar y software del sistema.
Esta prueba del sistema HMS utiliza el último medidor de fuente de prueba importado de Keithley, combinado con la tarjeta matriz de baja latencia de baja latencia y alto ancho de banda, que mejora en gran medida el rango y la precisión de la corriente de suministro de alimentación de la muestra y el voltaje del salón de la muestra de la muestra. La fuente de alimentación de corriente amplia y el amplio rango de prueba de voltaje pueden cubrir la mayoría de los dispositivos de semiconductores en el mercado.
Los resultados experimentales son calculados automáticamente por el software, y los parámetros, como la concentración de portador a granel, la concentración del portador de la hoja, la movilidad, la resistividad, el coeficiente de pasillo y la magnetoresistencia se pueden obtener al mismo tiempo.
Parámetros de DX -70 Sistema de medición de la sala
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arameters |
Concentración de portador |
10³cm⁻³ - 10 ²³Cm⁻³ |
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Movilidad |
0 .1 cm²\/ volt*sec - 10 ⁸cm²\/ volt*sec |
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Rango de resistividad |
10⁻⁷ ohm*cm - 10 ¹² Ohm*cm |
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Voltaje de la sala |
1 uv - 3 v |
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Coeficiente de salón |
10⁻⁵ - 10 ²⁷cm³\/ c |
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Tipo de material comprobable |
Material semiconductor |
Sige, sic, inas, ingaas, inp, algaas, hgcdte y materiales de ferrita, etc. |
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material de baja resistencia |
Grafeno, metales, óxidos transparentes, materiales semiconductores débilmente magnéticos, materiales de TMR, etc. |
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material de alta resistencia |
Gaas semi-aislantes, GaN, CDTE, etc. |
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Partículas conductoras de material |
Prueba de Tipo P y Tipo N de materiales |
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Entorno de campo magnético |
Tipo de imán |
Electroimán variable |
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Magnitud del campo magnético |
1070mt (el tono de polo es de 10 mm) |
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Área uniforme |
1% |
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Ambiente magnético opcional |
El electroimán del tamaño magnético relevante se puede personalizar de acuerdo con las necesidades de los clientes. |
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Parámetros eléctricos |
Fuente actual |
± 0. 1Na- ± 1000MA |
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Resolución de fuente actual |
0. 001ua |
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Voltaje de medición |
± 10nv ~ ± 200V |
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Resolución de medición de voltaje |
0. 0001 MV |
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Otros accesorios |
Sombreado |
Piezas de protección de luz instaladas por aliado externo para hacer que el material de prueba sea más estable |
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Tamaño de muestra |
Máximo 30 mm * 30 mm |
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Gabinete de caja |
600*600*1000 mm |
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Pieza de prueba |
Efecto de la sala del Instituto de Semiconductores, Muestras de prueba estándar de la Academia de Ciencias de China y datos: 1 Establecimiento |
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Hacer contactos ohmic |
Soldador eléctrico, chips de indio, soldadura, alambre esmaltado, etc. |
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La medición automática de un botón se puede realizar sin la necesidad de operación humana después de que se inicia la prueba |
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El software puede realizar la curva IV y la curva BV |
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Establecer en software para medición automática de temperatura |
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Los resultados experimentales se miden y los datos se guardarán temporalmente en el software. Si se requiere un almacenamiento a largo plazo, los datos se pueden exportar a una tabla de Excel para facilitar el procesamiento de datos posteriores. |
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Proporcionar muestras de prueba estándar de efecto Hall y datos del Instituto de Semiconductores, Academia de Ciencias de China: 1 set |
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Muestras comprobables del sistema HMS
Preguntas frecuentes